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導電粒子檢查機(COG AOI) |
導電粒子檢查機(COG AOI)
擁有即時追焦補償系統，採用快速、高解析攝影機，配合數位影像處理及精密光學，整合系統化，達到分析及辨識粒子壓合強度，檢測分類及資料彙整分析上報。可依據線上生產時間, 基板大小, 粒子檢出需求作適當的設計。
檢查項目:
粒子爆裂數量、邦定強度、邦定痕跡長度
性能特色
- 高精度即時追焦補償系統
- 高解析/頻寬 TDI 相機擷取
- 高精度缺陷檢出、高速度處理
- 高效率之軟體運算，高速檢測能力
- 高效率之軟體運算，高速檢測能力
- 直覺化人機介面，彈性設計滿足客戶需求
- 用戶檢出資料管理，統計處理
