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覆晶薄膜檢查機(Lead Check / COF AOI)

產品標題名稱

覆晶薄膜檢查機(Lead Check / COF AOI)

自動光學檢查模組可依據線上生產面板大小,缺陷大小作適當的設計。適用於新進設備或廠內既有之所有生產線。採用獨家的感光耦合元件 (CCD)正反射光源,可檢出導電粒子數及異物。


設備功能
  • 對位精度檢查(shift check): 外引腳貼合機對位精度檢查。
  • 異方性導電粒子數檢查(ACF check):導電粒子數量檢查。
  • 導電粒子數壓痕強度檢查: 導電能力檢查。
  • 異物檢查 : 外來異物、顆粒、碎片檢查。

適用產品

  • 面板尺寸: 18.5~42” / 26~32” / 32~47” / 32”~57” / 37”~65” / 50”~85”

設備特色

  • 高解析度
  • 高精度導電粒子數檢出
  • 高信賴度
  • 高速度處理
  • 模組系統的概念
  • 依客戶需求的人機介面設計
  • 用戶檢出資料管理
  • 最新的 資料庫及統計處理